
共聚焦干涉分析测量仪
- 规格型号:LEICA DCMB
- 仪器分类:分析仪器 -> 显微镜及图像分析仪器 -> 光学显微镜
- 生产厂商: 莱卡
- 仪器类别: 通用
- 仪器状态: 正常
- 河南省文物考古研究院
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主要用于材料样品表面形态的显微观察分析
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主要用于材料样品表面形态的显微观察分析
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