0371-25959123
X-Ray膜厚仪
- 规格型号：XDVM-P
- 仪器分类：分析仪器 -> X射线仪器 -> X射线能谱仪
- 生产厂商： Fischer
- 仪器类别： 通用
- 仪器状态： 正常
- 鸿富锦精密电子（郑州）有限公司
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测量最小值：0.001μm 对样品非接触、非破坏测量 镀层厚度测试范围： 金（0-8μm） 银（0-40μm） 镍（0-60μm） 锌（0-30μm） 铜（0-25μm） 铝（0-50μm） 铬（0-15μm） 铅（0-60μm） 钯（0-20μm） 锡铅（0-45μm）
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非接触式、非破坏式镀层膜厚测试方法，主要测量金属及部分塑料底材上金属镀层的类别、厚度，并可对其合金组分做初步分析，测试范围17~92（Cl~U）元素，对于不规则形状的零件可以测量极小的面积和极薄的镀层厚度，可测量范围: (0.01~75)μm 。
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测量金属及部分塑胶底材上金属镀层的类别、厚度或合金组成
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