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扫描式电子显微镜能谱仪
- 规格型号：SU1510 EX-250 Mics
- 仪器分类：分析仪器 -> 显微镜及图像分析仪器 -> 扫描探针显微镜
- 生产厂商： HITACHI
- 仪器类别： 通用
- 仪器状态： 正常
- 鸿富锦精密电子（郑州）有限公司
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分辨率：3.0nm(30kV)；放大倍率：25X~100,000X；试片尺寸：200mm；影像模式：Secondary (SEI)Back scatter (BEI)；
背散射电子（BEI）：分辨率数十nm；二次电子（SEI）分辨率nm级。分辨率高、试样准备简单、放大倍数高、景深较大。 -
1.观察金属、塑料、陶瓷等固体材料的表面微观形貌以及测量微小尺寸。
2.成份分析（半定量）
SEM是用高聚焦的电子束轰击样品表面，通过收集调制从样品表面产生的物理信号如二次电子、背散射电子、吸收电子、透射电子、俄歇电子、特征X射线等,从而在荧光屏上成像。目前SMT实验室的SEM成像只采用了二次电子(SEI)和背散射电子(BEI)。 -
电子行业、金属材料、塑胶材料、加工业等领域固体样品微观表面检查、尺寸量测和成分分析。
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