紫外可见近红外分光光度计

波长范围：175～3300nm。
杂散光：0.00005%T，在220，340，370nm按ASTM E-387法测量
仪器线性范围：±8A。
波长精度：UV/Vis ±0.025nm，NIR ±0.2nm
波长重复性：UV/Vis<0.002nm ，NIR< 0.008nm
分辨率：<0.05nm
光度精度：±0.0003A@1A，双光阑法
光度重复性：<0.00008A
基线漂移：<0.0001A/h
基线平直：<0.0008A，无平滑
噪声水平：<0.000015A（0A，1500nm，均方根）

衰减片：样品光路和参比光路具备两组包含0%、1%、100%自动衰减片，用于平衡照射到检测器上的两束光的强度，且衰减片放置于仪器内部，不占用样品仓位置，通过软件可方便控制不同规格衰减片的使用。
样品仓：样品仓可以移去，在使用积分球检测器时，样品仓可放置原位、固体控温等特殊附件。
采用高灵敏度、无格栅设计的R6872型光电倍增管、Peltier冷却PbS两个独立检测器。
分光系统：双光束，双单色器型。全息光栅，刻线数：紫外/可见区1440条/毫米，近红外区360条/毫米。

要主用学材料、膜于光材料等各类固体、粉末、液体样品的透射、反射和漫反射

样品规格详询

200/样