0371-25959123
-
KSV NIMA LB；卷轴移动位置分辨率：20 µm;基材卷动速度：1-100 mm/min;卷对卷装置可以拆卸更换为Langmuir-Blodgett（垂直）或者Langmuir-Schaeffer（水平）沉积装置;膜天平测量范围：0-300 mN/m，精度达到0.03 µN/m;槽体内部尺寸：364 × 75 × 4 mm（长 × 宽 ×高）
-
卷对卷式单分子膜沉积与表征系统，可以通过精确控制分子取向和堆积密度，实现在固体或者柔性衬底上大面积沉积高度有序的单分子膜。可根据需要设计、实现量子点在分子水平上的组装。配备的布鲁斯特角显微镜利用 p偏振光成像，可以实时监控单分子或者单纳米颗粒层在液面上的组装状态，在纳米材料和二维材料领域有广泛的应用价值。
-
样品制备
-
双亲性分子
-
200元/小时
