0371-25959123
飞行时间二次离子质谱
- 规格型号：TOF-WERK
- 仪器分类：分析仪器 -> 质谱仪器 -> 其他
- 生产厂商： TOF-WERK
- 仪器类别： 通用
- 仪器状态： 正常
- 开封时代新能源科技有限公司
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水平方向分辨率：40nm，垂直方向分辨率：3nm
元素检测下限：5ppm
质谱分辨率：＞800
质量数范围：1~2500
动态范围：优于6 Decades -
能检测出包括氢在内的所有元素及同位素
能鉴定有机化合物分子
灵敏度高，检出限ppm级别 -
对元素进行面分布分析，水平方向分辨率：40nm，垂直方向分辨率：3nm
鉴别在金属、玻璃、陶瓷、薄膜或粉末表面上的有机物层或无机物层，能对有机物进行分析
掺杂剂与杂质的深度剖析；
薄膜的成分及杂质测定
同位素丰度分析 -
粉末、块体、薄膜均可测试，块体样品要求长宽小于10mm，厚度小于10mm，粉末不低于200mg;
要求样品无毒、无磁性及无放射性等。且对要分析的元素必需是已知的。 -
1000元/小时
