0371-25959123
扫描透射探测器
- 规格型号：HADF R-STEM Detector
- 仪器分类：分析仪器 -> 电子光学仪器 -> 透射电镜
- 生产厂商： TESCAN
- 仪器类别： 通用
- 仪器状态： 正常
- 开封时代新能源科技有限公司
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分辨率：≤ 0.9nm@30KV
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用于研究生物样品中的超微结构、半导体器件的失效分析和材料的表征。
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一次可装载观察多个样品；同时获得明场像 ( BF) 、暗场像 (DF ) 和高角暗场像 ( HADF ) ；样品可以上、下移动，以达到最佳成像工作条件；可交换样品台，易于操作，可快速更换试样。
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要求样品厚度小于100nm
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1200元/h
