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分子水平表面力学测试系统

规格型号:SURFORCE LLC SFA2000
仪器分类:分析仪器 -> 光谱仪器 -> 其他
生产厂商: SurForce LLC
仪器类别: 通用
仪器状态: 正常
郑州大学
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1. SFA主体室:
1.1 测量正常粘附力测量的灵敏度:10 nN(1 mdyne)。
1.2 距离精度:0.1 nm (1 Å)
1.3 探针下压速度范围::<0.1 Å/sec 到>1 mm/sec (漂移决定下限,内部和表面材料的粘度决定上限。
1.4 水平距离分辨率:<1 μm。
2. 顶部一维压电元件(在超过1um的范围内产生约1 nm/V垂直(z)运动)
3. 带较低磁盘挂载的主滑动平台(法向力测量弹簧)
3.1 力测量弹簧刚度可以达到的范围:30 – 5×105 N/m 。
3.2 最大可实现压缩力(使用曲面半径0.5 - 1毫米和一层薄薄的硬胶):0.5 MPa (5,000 atm)。
4. 光学站(机动)
5. 高度可调镜腿和自适应镜面的底部平台
6. 主燃烧室注射器注入器/蒸汽压槽接口
7. 室加热器(2 x 100 w)和热敏电阻:
7.1 热漂移:<0.1 Å/sec(在一个房间里平衡1小时后或外壳温度稳定到±0.1°C)
7.2 主燃烧室与热敏电阻加热器(2 x100w)(非闭环控制)
分子水平表面力学测试系统,是目前分子膜相互作用分析技术最先进手段,其精度远在其他仪器设备之上,可以直接测量表面(无机、有机、金属、氧化物、聚合物、玻璃、生物等)之间的力学信号,在分子水平上研究界面和薄膜现象的静态和动态力。它可以测量表面之间的介质折射率、吸附等温线、毛细管冷凝等。表面力学方面,可以测试动态相互作用力,如粘弹性和摩擦力以及薄膜流变性,并可以观察分子(纳米)级别上表面变形之间介质折射率的实时变化。
可提供制样、测试及数据分析服务,测试一个样品从制样到分析耗时较长(通常为6-8个小时),按小时计费
样品测试前详细注意事项请联系张老师(15306693524)
200元/小时
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