X-射线粉末衍射仪

测量精度：角度重现性±0.0001° 测角仪半径：≥200mm，测角圆直径可连续变 靶源：配有铜靶
最小步长0.0001° 角度范围（2θ）：0.2°-140°
最大输出功率：3KW 管电压：20～60kV(1kV/1step) 管电流：10～60mA

布鲁克公司的D8 ADVANCE X射线衍射仪是当今世界上最先进的X射线衍射仪系统，它设计精密，硬件软件功能齐全，能灵活地适应粉末，薄膜及完全晶体的各种微观结构测定，分析和研究任务。步进马达加光学编码器确保测角仪快速而准确定位，入射及衍射光路的各种附件均安装在高精度导轨上。同时配置有高温样台：试样所处高真空石墨罩，真空度达到2*10-3Mpa，试样最高可加热温度为1100℃。小角衍射最小角可以达到0.4度，主要测量介孔材料和其他高分子复合材料。广角衍射：最低角度可以达到5度，可以精确接收到小于10度的衍射峰。

可以对物质的组成及物相进行表征分析

粉末样品：样品量≥50mg，样品均匀干燥，手摸无明显颗粒感。

块体样品：长宽尺寸1cm-2cm, 厚度≤2cm,表面平整光滑,需注明测试面。

液体样品：需滴到硅片上制样，需保证样品易挥发，不含有难挥发的液体状物质，若由我们制样，每个样品收取30元的制样费。

薄膜样品：长宽尺寸1cm-2cm， 薄膜厚度高于 100nm，表面平整光滑。

广角衍射 60.00/样