X射线衍射仪

管电压：10～60 kv，1 kv/Step； 管电流:5～80 mA，1 mA/Step；
额定功率：3 KW； 测角仪重复性：≤0.001 o；
测角准确度：≤0.005 o； 测角精度：≤0.005 o；
角度设置速度：120 o/min； 能谱分辨率：≤25%（Cu Kα谱线）；
最大计数率：5×105 cps/S； 仪器综合稳定度： ≤0.5%；
散射线计量：≤1 ？sv/h
扫描方式：连续或步进扫描 (连续扫描速度：0.001o～1.27o/S，步进扫描步宽：0.005o～160o；最小步进角：0.005 o)；

应用于单晶、多晶和非晶样品的结构分析，如物相定性和定量分析，衍射图谱指标化及点阵参数测定，晶粒尺寸及点阵畸变测定，衍射图谱拟合修正晶体结构（WPF），残余应力测定，织构分析，结晶度测定，薄膜外延或取向度分析。

粉末和薄膜的晶体结构分析。

最多提前预约 7 天,最少提前 10 分钟预约

校内50元/样品，校外100元/样品