半导体特性分析系统

直观的、点击式Windows操作环境
独特的远端前置放大器，将SMU的分辨率扩展至0.1fA
用于高级半导体测试的新型脉 冲与脉冲式I-V功能
集成了示波与脉冲测量功能的新型示波卡
内置PC提供快速的测试设置、强大的数据分析、制图与打印、以及测试结果的大容量存储
独特 的浏览器风格的软件界面，根据器件的类型来安排测试，可以执行多项测试并提供测试序列与循环控制功能
内置了Stress/Measure，循环和数据分析功能，通过鼠标点击方 式就可进行可靠性测试，包括5个JEDEC规范的样品测试

半导体器件：
片上参数测试
晶圆级可靠性
封装器件的特性分析
使用Model4200-SCS控制外部LCR表进行C-V、I-V特性分析
高K栅电荷俘获
易受自加热 效应影响的器件和材料的等温测试
电荷泵方法分析MOSFET器件的界面态密度
电阻式或电容式MEMS驱动特性分析
光电器件：
半导体激光二极管DC/CW特性分析
收发模块DC/CW特性分析
PIN和APD特性分析
科技开发：
碳纳米管特性分析
材料研究
电化学

半导体激光二极管DC/CW特性分析
收发模块DC/CW特性分析
PIN和APD特性分析
科技开发：
碳纳米管特性分析
材料研究
电化学

定期对外开放，需提前一周申请

200元/样